客戶咨詢熱線：
15179100326
訪問次數(shù)：4043
更新日期：2025-05-02
簡要描述：
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測(cè)量儀Napson 4探針測(cè)量系統(tǒng)使用了盒式磁帶（*為Jandel的原始類型）。我們還為其他公司的設(shè)備提供6針連接器類型和小模塊類型。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測(cè)量儀
<探頭頭類型>
Napson 4探針測(cè)量系統(tǒng)使用了盒式磁帶（*為Jandel的原始類型）。我們還為其他公司的設(shè)備提供6針連接器類型和小模塊類型。
Napson的4探針法電阻/薄層電阻測(cè)量儀器使用由Jandel（UK）制造的高精度4探針探頭。
Jandel探頭z適合用于測(cè)量需要高精度的半導(dǎo)體和金屬薄膜的電阻和薄層電阻，并且已經(jīng)經(jīng)過了多年的高度評(píng)估。
*由于使用了V型彈簧，因此觸針壓力始終穩(wěn)定。
*上下均使用珠寶導(dǎo)板來固定探頭，因此具有出色的針間精度和穩(wěn)定性。
*軸和刀頭是一體的，因此對(duì)刀頭的損壞很小，并且具有出色的耐用性。
日本napson用于探頭電阻/薄層電阻測(cè)量儀
根據(jù)材料，表面條件和待測(cè)樣品的形狀選擇類型。
<推薦參考示例>
| 目標(biāo)樣品 | 探頭 （材料/尖duan半徑） | 測(cè)針壓力/書本 |
| 硅錠塊 | TC-40u | 200克 |
| 硅片 | TC-40u | 200克 |
| 蝦結(jié)構(gòu)層 | TC-150u | 100克 |
| 薄外延層 | TC-150u，500u | 50克 |
| 薄層如淺擴(kuò)散 | OS-200u，500u | 50克 |
| 擴(kuò)散層 | OS-200u，TC-150u | 100克 |
| 離子黑斑 | TC-150u | 50克，100克 |
| 金屬薄膜 | TC-150u，500u | 25g，50g，100g |
| ITO膜 | TC-150u，500u | 25g，50g，100g |
*可以使用上述以外的樣品進(jìn)行測(cè)量（導(dǎo)電）。
*也可以使用其他類型。
*也可根據(jù)要求提供特殊規(guī)格。
（關(guān)于產(chǎn)品編號(hào)）
<示例>TC-40μ-200g/ 1.00mm-針
材料：TC;碳化鎢（OS; alloy合金）-
針尖半徑：40μm（可能在25μm至500μm之間）-
針壓力（g /書）：200克（可能10克至250克）-
針間距：1.00毫米（可能0.5毫米至1.59毫米）-針
排列：線性（標(biāo)準(zhǔn)）（可能是正方形）
