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更新日期：2024-03-20
簡要描述：
日本電測densoku電解式膜厚儀GCT-311Windows 規(guī)格，全功能可實現(xiàn)多達 5 層的多層薄膜測量- 使用個人計算機提高可操作性和增強功能 - 使用Windows 規(guī)格輕松處理數(shù)據(jù) -多可以注冊 50 個測量通道 - 可以為多層膜設(shè)置多 5 層的測量條件- 當出現(xiàn)異常值時，測量值顯示在紅色報告中，并帶有顯示和警告聲
| 類型 | 數(shù)字式 | 測量范圍 | 1 |
|---|
日本電測densoku電解膜厚儀GCT-311
Windows規(guī)格，全功能可進行多達5層的多層膜測量
?通過使用個人計算機提高了可操作性和增強的功能
?使用Windows規(guī)格輕松進行數(shù)據(jù)處理
?z多可注冊50個測量通道
?多層膜z多可設(shè)置5層測量條件
?發(fā)生異常值時，測量值顯示為紅色帶有顯示和警告聲的報告
改進的可操作性和增強的功能
通過使用個人計算機，提高了可操作性并增強了功能。
易于數(shù)據(jù)處理
使用Windows規(guī)范可以輕松完成數(shù)據(jù)處理。
z多可以注冊50個頻道
z多可以注冊50個測量通道。
z多5層多層膜
多層膜z多可以設(shè)置5個層的測量條件。
發(fā)生異常值時具有警告功能
通過設(shè)定上限和下限發(fā)生異常值時，測量值顯示為紅色，并顯示警告聲。
自動顯示所用電解液的類型
薄膜和基材的組合會自動顯示所用電解質(zhì)的類型。
易于檢查顯示處理方法
您可以檢查測量單位的顯示處理方法。
純錫層和合金錫層可分別測量
可以對純錫層和合金錫層分別進行“錫/銅"測量。
輕松測量雙鎳和三鎳之間的電勢差
通過使用比較電極（可選）和電勢圖測量，可以輕松地測量雙鎳和三鎳之間的電勢差。
日本電測densoku電解膜厚儀GCT-311
測量范圍 | 0.01-300微米 |
z低分辨率 | 0.001微米 |
機體精度 | ±1％ |
計量單位 | μm，mm，mil，毫升 |
測量面積 | 1.7,2.4,3.4mmφ |
電源供應 | AC100V |
車身尺寸 | 寬265×深215×高138mm |
重量 | 4.5公斤 |
控制 | Windows規(guī)格電腦 |
